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- 两种高岭土的相组成及其对型壳抗弯强度的影响
- 作者： 谭科杰 张炫 李文 王亮 金涛 来源： 铸造 年份： 2016 文献类型 ： 期刊 关键词： 型壳 抗弯强度 微观结构 熔模铸造 XRD
- 描述： 高岭土是精密铸造型壳用耐火材料,本文研究了煤系(1~#)和非煤系(2~#)两种高岭土的物相组成及其对型壳抗弯强度的影响。利用XRD和DSC分析了两种高岭粘土粉末的相组成和热力学特性,利用三点抗弯法
- 龙岩高岭土的苯乙烯原位聚合插层的FTIR和XRD研究
- 作者： 郭勇 郑玉婴 龙海 葛亮 李峰 来源： 光谱学与光谱分析 年份： 2012 文献类型 ： 期刊 关键词： 原位聚合 苯乙烯 FTIR 高岭土 XRD 插层
- 描述： 得到高岭土/聚苯乙烯复合物。红外在1 453,1 499和1 606cm-1的吸收振动峰证明了聚苯乙烯的存在。XRD结果显示高岭土层间距0.712nm,苯乙烯聚合后片状结构已经被剥离。热重显示聚苯乙烯占
- 超声法制备高岭土-水合肼插层复合物
- 作者： 胡小龙 来源： 化工管理 年份： 2017 文献类型 ： 期刊 关键词： 水合肼 超声 高岭土 XRD
- 描述： 高岭土是一种无机层状材料,由于其层间有比较强的氢键相连,使其在实际应用中受到限制。近年来,高岭土插层研究逐渐受到人们的重视。它的有机复合物在吸附、反应活性等方面都表现出优良性质。将有机物插入高岭石层间,使其层间距增大,层间表面能降低,层间由亲水性转变为疏水性,可以经过多步层间置换反应得到性能优异的纳米复合材料。本文采用超声法将水合肼插入到高岭土层间,通过XRD表征表明该方法可以很大程度上提高插层率。
- 长江三峡库区不同坡段坡地土壤风化特征
- 作者： 何太蓉 杨达源 蔡运龙 来源： 山地学报 年份： 2010 文献类型 ： 期刊 关键词： 风化 XRD 三峡库区 坡段
- 描述： 通过野外采样和实验室XRD分析,建立了基于XRD分析图谱的风化指标,研究了三峡库区不同坡段坡地的风化程度.三峡库区草堂河流域不同坡段坡地风化特征有一定的共性,如土壤中的主要特征矿物种类相同,主要有高岭石、云母和蛭石;所有样品中高岭石峰值均不高,甚至个别样品图谱上几乎没有高岭石峰的出现;3种主要的特征粘土矿物中以蛭石峰值最高;表层和底层的粘土矿物总量差异也不大.但是不同坡段土壤的风化程度仍存在一定差异.从顶部的分水岭山脊段到山坡上部直形坡崩塌段、山坡下部直形坡搬运段以及最下部的山坡坡麓洪冲积堆积段这4个坡段,4项风化指标均呈增加的趋势,说明从坡上到坡下土壤的风化程度逐渐加大.
- La0.8Sr0.2Co0.8Mn0.2O3/SUS430合金连接体制备及微观应变分析
- 作者： 徐序 罗凌虹 吴也凡 石纪军 程亮 来源： 材料工程 年份： 2010 文献类型 ： 期刊 关键词： 微观应变 金属连接体 XRD LSCM涂层
- 描述： 本工作采用溶胶-凝胶提拉法制备了SUS430合金连接体LSCM涂层,探索了涂层的制备工艺,并采用X-ray衍射对涂层进行了分析.通过对涂层X-ray衍射谱的Rietveld拟合,确定了LSCM涂层的精细晶体结构；基于Rietveld拟合得到的洛伦兹峰形展宽参数,计算得到涂层的平均晶粒尺寸；以合金基体相峰形展宽为参照,基于Rietveld拟合和微观应变峰形展宽理论计算得到涂层晶粒内部最大微观应变的方向和大小,分析了涂层中微观应力存在的可能原因.
- 基于磁化焙烧处理的高岭土磁选除铁增白工艺的研究
- 作者： 仝元东 曾权 梁健 夏光华 来源： 中国陶瓷工业 年份： 2013 文献类型 ： 期刊 关键词： 煅烧白度 湿法球磨 高岭土 XRD
- 描述： 以贵州某地高岭土为研究对象,采用湿法球磨对磁化焙烧强化高岭土磁选除铁增白工艺进行了研究。在湿法球磨浆料体系中,以0.2%无水碳酸钠和0.2%六偏磷酸钠为助磨剂,研究了浆料体系的不同pH值及不同球磨时间对磁选精矿产率的影响。结果表明,当浆料体系在pH值为9,球磨时间为30min时,磁选精矿磁选产率可达84.4%,煅烧白度为87.4%,通过XRD图谱及化学组成综合分析可知,磁选精矿中矿物形式以高岭石的为主,含少量的偏高岭石;磁选铁杂质矿物存在形式以石英、磁铁矿为主,二者以胶结的形式存在,湿法球磨不易将其剥离而以胶结的形式一同磁选出。
- SUS430合金连接体La0.8Sr0.2MnO3涂层的制备及微观结构分析
- 作者： 徐序 罗凌虹 吴也凡 石纪军 程亮 来源： 陶瓷学报 年份： 2010 文献类型 ： 期刊 关键词： 微观应力 LSM涂层 XRD SOFC
- 描述： 通过对干凝胶粉体的DTA和TG分析探索了La0.8Sr0.2MnO3(LSM)涂层的烧成制度,并采用溶胶-凝胶提拉法制备了SUS430合金LSM涂层。对SUS430/LSM试样进行了X-ray物相分析,确定了样品中的主要物相;通过Rietveld拟合确定了LSM涂层的精细晶体结构;对LSM涂层的XRD峰形宽化进行了分析,计算得到涂层球形晶粒民族尺寸,分析了涂层内部微观应力状况以及微观应力存在的可能原因。