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Si衬底GaN基多量子阱外延材料的TEM研究
作者: 李翠云   占腊生   来源: 电子显微学报 年份: 2011 文献类型 : 期刊 关键词: GaN   位错   Si衬底   TEM  
描述: 本文采用高分辨透射电子显微技术对在Si衬底生长的GaN基多量子阱外延材料的位错特征、外延层与衬底的晶体取向关系及界面的结晶形态等微观结构进行了分析和研究。结果表明:Si衬底生长的GaN与衬底有一定
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