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关键词
连续微光学元件在光刻胶上的面形控制
作者: 曾红军   杜春雷   王永茹   白临波   邓启凌   陈波   郭履容   袁景和   来源: 光学学报 年份: 2000 文献类型 : 期刊 关键词: 连续微光学元件   光刻胶线性   倒易关系   面形控制  
描述: 介绍了连续微光学元件在光刻胶上的面形控制方法。分析了光刻胶及显影液在制作二元和连续元件中所存在的差别 ;导出具有倒易关系的浮雕深度表达式和适用的范围 ,并以此指导面形的控制 ,对光刻胶进行适当的改造以适应连续微光学元件的制作。本文还给出了实验验证 ,制作出了多种质量优良的连续微光学元件 ,并对典型元件的面形进行了评价。
精确控制大数值孔径微透镜列阵面形的显影阈值方法
作者: 董小春   杜春雷   来源: 光学学报 年份: 2004 文献类型 : 期刊 关键词: 显影阈值   正性光致抗蚀剂   光刻模型   面形控制  
描述: 提出了一种可对大矢高、非球面微透镜阵列面形进行精确控制的新方法。针对不同面形的微透镜阵列 ,该方法首先对光致抗蚀剂表面的曝光分布进行设计 ,然后 ,利用光致抗蚀剂显影过程中的阈值特性 ,对微透镜的面形实行控制。当抗蚀剂显影速率接近 0时 ,即可获得设计的微透镜面形。该方法不仅大大提高了微透镜阵列矢高的加工范围 ,而且还减小了光刻材料显影特性对微透镜面形的影响 ,提高了微透镜阵列的面形控制精度 ,在实验中获得了矢高达 114 μm的微透镜阵列。最终实现了大浮雕深度、大数值孔径、非球面微列阵光学元件的面形控制。
负性光刻胶刻蚀工艺研究
作者: 董小春   杜春雷   来源: 光子学报 年份: 2003 文献类型 : 期刊 关键词: 明胶   负性光刻胶   面形控制  
描述: 对负性光刻胶的蚀刻特性进行了详尽的数学阐述,推导出了光致抗蚀剂层的刻蚀速度同曝光量以及光刻材料吸收系数之间的微分关系,以该微分方程为理论依据,通过对光刻显影过程进行模拟,得出了蚀刻最佳浮雕面形所需的光刻条件,并以“重铬酸盐-明胶”为光刻材料进行实验,获得了良好的实验结果。
连续微浮雕面形控制的新方法
作者: 董小春   杜春雷   王长涛   来源: 激光与光电子学进展 年份: 2005 文献类型 : 期刊 关键词: 壁垒效应   光刻模型   面形控制   微光学元件  
描述: 曲线面形控 制技术。该方法克服了抗蚀剂显影模型精度以及显影不稳定性对浮雕面形的影响,使光刻胶上微结构浮雕深度超过 100μm,面形均方根误差小于1μm。
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