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元大都出土青花瓷器的无损分析: 作者： 李德金蒋忠义沙因黄宇营邵涵如 来源： 考古 年份： 1999 文献类型： 期刊 关键词： 微量元素青花瓷器同步辐射元大都 无损分析 分析方法元青花瓷分析结果考古学出土; 描述： 元大都出土青花瓷器的无损分析

清代工笔云龙水波纹绘画颜料及技法研究: 作者： 郝生财施继龙王纪刚何秋菊齐晓堃周忠周文华 来源： 光谱学与光谱分析 年份： 2016 文献类型： 期刊 关键词： 清代工笔画绘画技法 无损分析 颜料鉴定; 描述： 利用超景深三维视频显微镜、激光显微共聚焦拉曼光谱仪、能量色散型X射线荧光分析显微镜,对一幅清代工笔画中云龙纹、水波纹所用颜料及技法进行研究。实验结果表明,画作中人物衣服首先以人工合成颜料巴黎绿（Paris green,Cu（CH 3 COO） 2 ·3Cu（AsO 2 ） 2 ）整体填色,再用铁红（Hematite,α-Fe 2 O 3 ）描绘出云龙纹、水波纹,绿色、红色颜料共同呈现纹饰内区的暗黄色,此后再以Cu-Zn-Pb合金黄铜粉末勾描出“金边”。此外在画作中还发现了人工合成的群青(Ultramarine,（Na,Ca） 7-8 （Al,Si） 12 （O,S） 24 [SO 4 ,Cl 2 （OH） 2 ]),结合巴黎绿、群青合成成功的年份,确定了画作完成的时间上限。

荧光光谱技术在测定古代纺织品中红花红色素的应用研究: 作者： 马江丽 来源： 文物保护与考古科学 年份： 2015 文献类型： 期刊 关键词： 应用研究成分鉴定文物保护 无损分析 荧光光谱技术红色素薄层色谱法花鸟图实验样品正仓院; 描述： 、油画等的着色剂鉴定。本研究实验样品共4件,均为自8世纪以来即保存在日本正仓院的古代纺织品。1块红色地毯,1件红

景德镇青花瓷器无损分析研究: 作者： 苗建民余君岳 来源： 故宫博物院院刊 年份： 1996 文献类型： 期刊 关键词： 定性分析 EDXRF 青花瓷器青花色料景德镇 无损分析 X荧光光谱 X射线千电子伏特特征元素; 描述： 引言在科学技术高度发展的今天,用现代科技手段测定研究古代陶瓷的产地和年代,已成为陶瓷考古的重要方法。用各种物理化学方法分析陶瓷的化学元素组成,研究各类陶瓷的制作材料配比,判别陶瓷的烧制地点。用热释光技术测定陶瓷年代,鉴别真伪。然而,上述测量研究都是在陶瓷残片或是允许取样的陶瓷上进行的。我们知道,当人们希望通过科技方法测定一件完整珍贵瓷器真伪属性的时候,绝不会允许在测定过程中对器物有任何损坏,在这种

文物无损分析用能谱仪在上海博物馆改装成功: 作者： 暂无 来源： 文物保护与考古科学 年份： 2001 文献类型： 期刊 关键词： 改装 ace公司检测手段 1999年研究机构成功通力合作实验室人员仪器 无损分析 上海博物馆文物; 描述： ”就以该仪器为实现载体。现阶段进行的主要工作是相关数据库的建立，分析对象现集中在陶瓷样品，已完成的陶瓷分析样品点达５００多个，相应元素数据达１万多条。利用该仪器对青铜器、玉器、金银器等文物的分析也已成熟。（本刊通讯员）文物无损分...

元大都出土青花瓷器的无损分析: 作者： 李德金蒋忠义 来源： 同步辐射装置用户科技论文集 年份： 1999 文献类型： 期刊 关键词： 无损分析 考古学瓷器元大都出土; 描述： 元大都出土青花瓷器的无损分析

故宫南大库出土黑地珐琅彩瓷的科学分析和工艺研究: 作者： 贾翠曲亮张蕊冀洛源单莹莹雷勇 来源： 故宫博物院院刊 年份： 2018 文献类型： 期刊 关键词： 珐琅料 无损分析 珐琅彩瓷黄色彩料; 描述： 2014年故宫南大库考古遗址出土了一件被认为是瓷胎画珐琅的雍正黑地彩瓷残件,本文采用光学显微镜、X射线荧光光谱分析、显微拉曼和激光诱导击穿光谱(LIBS)等无损分析方法对该件彩瓷进行了分析。结果显示,通过LIBS测定的彩瓷表面的黑色彩料中含硼,符合前人研究中测试的珐琅料的化学组成特征;黑色彩料中的着色元素包括钴、铁和锰,黄色彩料含有的着色元素为锑和锡,红色彩料由金着色,绿色彩料由铜着色。本件珐琅彩瓷可能采用了受西方工艺影响的珐琅料与中国传统低温釉彩相结合的工艺。

EDXRF对宣德官窑青花瓷器色料的无损分析研究: 作者： 苗建民王莉英 来源： 故宫博物院院刊 年份： 1999 文献类型： 期刊 关键词： 元青花残片 EDXRF 官窑青花瓷器青花色料碎片 无损分析 X荧光谱宣德; 描述： 引言能量色散型X射线荧光光谱技术(英文为Energry-Dispersive X-Ray FluorescenceSpectrometry,简写为EDXRF)。是70年代初期发展起来的仪器分析技术,比与它相关的波长色散型X射线荧光光谱技术(英文为Wavelength-Dispersive X-Ray FluorescenceSpectrometry,简写为WDXRF)晚了20年。由于EDXRF技术采用高分辨率的Si(Li)半导体探测器代替WDXRF光谱中复杂的晶体分光系统,而使这种仪器具有对样品中的元素定性定量分析速度快、造价低廉的特点,在近二十多年的时间里赢得了广泛的用户,得到了迅速的发展。特别是由于它去掉了晶体

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