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不同衬底温度下生长的Bi1.5Zn1.0Nb1.5O7.0薄膜的XPS研究
作者: 张效华   辛凤   胡跃辉   陈义川   杨丰   来源: 真空科学与技术学报 年份: 2013 文献类型 : 期刊 关键词: Bi1.5Zn1.0Nb1.5O7   脉冲激光沉积   薄膜   X射线光电子能谱  
描述: ~700℃范围内变化。X射线衍射测量结果表明:当在500℃沉积BZN薄膜时,薄膜呈现出无定形态结构。随着衬底温度增加到550℃,薄膜开始晶化,并且显示出立方焦绿石结构。X射线光电子能谱也被用来研究BZN薄膜
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