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- BIST在SoC片上嵌入式徽处理器核上的应用
- 作者： 江伴东 牛军伟 汪志成 来源： 单片机与嵌入式系统应用 年份： 2009 文献类型 ： 期刊 关键词： 片上系统 LogicBIST 嵌入式微处理器核 MemBIST 片内测试
- 描述： 介绍了SoC片上嵌入式微处理器核的一种测试技术——片内测试（BIST）。讲述了片上系统的由来以及两个重要特点。与传统的测试方法比较后，讨论了MemBIST、LogicBIST等常用BIST测试技术的结构和特点，分析了这几种测试方法的优缺点。