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单片机与嵌入式系统应用
(1)
关键词
BIST在SoC片上嵌入式徽处理器核上的应用
作者：
江伴东
牛军伟
汪志成
来源：
单片机与嵌入式系统应用
年份：
2009
文献类型 ：
期刊
关键词：
片上系统
LogicBIST
嵌入式微处理器核
MemBIST
片内测试
描述：
介绍了SoC片上嵌入式微处理器核的一种测试技术——片内测试（BIST）。讲述了片上系统的由来以及两个重要特点。与传统的测试方法比较后，讨论了MemBIST、LogicBIST等常用BIST测试技术的结构和特点，分析了这几种测试方法的优缺点。
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