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X射线荧光光谱法测定釉料中主次痕量组份
作者: 李建英   余荣台   余祖发   来源: 中国陶瓷 年份: 2006 文献类型 : 期刊 关键词: 基体效应校正   釉料   X射线荧光光谱仪   熔融法   理论α系数  
描述: 采用熔融玻璃法,用Axios型X射线荧光光谱仪(帕纳科公司)测定釉料中Fe2O3、Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、MnO、NiO、CuO、ZnO、ZrO2和PbO
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