-
宣德官窑青花瓷的面扫描分析
-
作者：
杨益民
冯敏
朱剑
毛振伟
王昌燧
黄宇营
何伟
来源：
光谱学与光谱分析杂志
年份：
2004
文献类型 ：
期刊
关键词：
青花瓷
面扫描
SRXRF
无损检测
-
描述：
用SRXRF对宣德时期官窑青花瓷片上的瓷彩进行面扫描分析 ,结果表明各元素分析线的峰面积有着不同的分布模式。根据与颜色浓淡、瓷彩上黄斑的耦合关系可以将K ,Cr ,Mn ,Fe,Co ,Ni,Cu ,Zn ,Hg ,Rb ,Sr,Y和Zr等 13个元素分为 3组。它可作为各个朝代青花瓷“指纹元素”的选择依据 ,并提出了研究瓷彩中黄斑的形成机制的新思路