陶瓷、玻璃和绝缘体材料的离子探针分析

【类型】期刊

【作者】周士涛 

【刊名】景德镇陶瓷

【关键词】 绝缘样品 表面分析 质谱分析 电子喷射 绝缘体 离子探针分析 离子束轰击 分析方法 景德镇陶瓷 二次离子

【摘要】一、前言离子探针显微分析技术是一种灵敏度很高的固体材料分析方法。当离子探针的离子源所产生的一个能量很高(10-20kev)。聚焦很细的一次离子束轰击样品时,能使得组成样品的原子和分子离子化产生二次离子,再将这些代表样品物质特征的二次离子引入质量分析器,按照质荷比(m/e)进行质谱分析。这种分析方法、又称为二次离子质量分析法、简记_1S′IM_1S′。离子探针有以下特点和功能。 1.检测灵敏度高,它的相对灵敏度是

【年份】1988

【期号】第4期

【页码】44-48

【作者单位】中国科学院地球化学研究所

【全文挂接】获取全文