UV-Vis光谱研究Al3+,Zn2+,Cu2+掺杂对TiO2薄膜光学禁带宽度的影响
日期:2007.01.01 点击数:6
【类型】期刊
【刊名】中国陶瓷工业
【摘要】通过采用溶胶-凝胶法制备了稳定的TiO2溶胶,在此基础上制备了Al3+,Zn2+,Cu2+等金属离子氧化物掺杂的复合TiO2薄膜。采用X射线衍射、紫外-可见分光光度计以及NKD-7000W薄膜分析系统对所得薄膜晶相组成、光学性质以及禁带宽度等进行了表征。结果表明,这些金属氧化物与TiO2的复合薄膜体系中,形成了单一的锐钛矿相TiO2,与纯TiO2薄膜相比,复合薄膜中TiO2纳米粒子平均尺寸在一定程度上减小了。同时,复合TiO2薄膜的光学透过率以及光学禁带宽度均随着添加量的增加而规律性变化。
【年份】2007
【期号】第5期
【页码】6-10
【作者单位】[1]景德镇陶瓷学院材料科学与工程学院,333001 [2]武汉理工大学硅酸盐工程国家教育部重点实验室,430070
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