EDXRF 无损检测青花瓷器的研究
日期：1997.01.01 点击数：15
【类型】期刊
【刊名】核技术杂志
【关键词】 EDXRF 青花瓷器 半值厚度 无损检测 扩散现象
【摘要】用ＥＤＸＲＦ方法测量青花瓷器中元素含量的研究结果表明：在青花瓷器的烧制过程中，存在色料层元素向釉层的扩散现象，通过对青花瓷器半值厚度的计算，发现瓷胎中有些元素对上述测量结果也有贡献。实验还发现，同一瓷器，不含青花纹饰的釉层各元素的测量结果与所测部位无关，而含纹饰的釉层有些元素的测量结果随位置而改变。
【年份】1997
【期号】第9期
【页码】538-543
【作者单位】故宫博物院；香港城市大学
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