宣德官窑青花瓷的面扫描分析

日期:2005.01.01 点击数:15

【类型】期刊

【作者】杨益民 冯敏 朱剑 毛振伟 王昌燧 黄宇营 何伟 

【刊名】光谱学与光谱分析

【关键词】 青花瓷 面扫描 SRXRF 无损检测

【资助项】中国科学院创新工程

【摘要】用SRXRF对宣德时期官窑青花瓷片上的瓷彩进行面扫描分析,结果表明各元素分析线的峰面积有着不同的分布模式。根据与颜色浓淡、瓷彩上黄斑的耦合关系可以将K,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Hg,Rb,Sr,Y和Zr等13个元素分为3组。它可作为各个朝代青花瓷“指纹元素”的选择依据,并提出了研究瓷彩中黄斑的形成机制的新思路。

【年份】2005

【期号】第8期

【页码】902-906

【作者单位】合肥中国科学技术大学科技史与科技考古系

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